请查阅“电子测量学”上的“抖晃率”定义。
测量电子设备的“抖晃率”是测试被测设备自身机械运动而产生的“电性能不稳定性”，即技术术语“抖晃率”。并非抗外界机械影响的能力。
“抖晃率”与“读取误差率”概念不同，设备自身机械运动而产生的“电性能不稳定性”与“抗（机械）干扰”概念不同，再如，一般统称的“抗电磁干扰”中而又严格区分“抗电场干扰”和“抗磁场干扰”，也是二个不同的概念。所以，技术指标的定义不同，指标优劣产生的原因就不同，解决问题的技术途径和手段也不同。
CD中采用了“锁相技术”，极大地降低了“抖晃率”，但同时又产生了取样时基误差（CD中的“jitter”---“跳动”，不应该从字面上解释为机械抖动！）。
